Agilent Technologies 34450A User Manual Page 102

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82 Guide d'utilisation 34450A
3 Didacticiel pour la réalisation de mesures
L'EMF thermique causé par des métaux distincts peut créer une
tension parasite dans le circuit de mesure (VEMF). L'EMF
thermique peut être causé par des cordons de connexions ou se
produire en interne dans la résistance R. En général, cette
tension n'est pas modifiée par le courant appliqué à la
résistance.
La tension mesurée, et donc la résistance calculée, est erronée à
cause du VEMF. L'utilisation de la compensation de décalage
peut réduire les erreurs causées par le VEMF. Pour effectuer
une mesure compensée par décalage, le multimètre effectue
deux mesures de tension, l'une avec la source de courant
activée, et l'autre avec la source de courant désactivée, et
soustrait les deux mesures. La chute de tension effective dans la
résistance et la résistance calculée sont obtenues de la manière
suivante :
1ère mesure - 2nde mesure = (I*R+V
EMF) -VEMF = I*R
La compensation de décalage peut être utilisée dans des
mesures en ohms à 2 ou 4 fils (disponible uniquement pour
100 W, 1 000 W et 10 000 W).
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